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產(chǎn)品詳細頁SA-Stage-C單點反射測量支架
- 產(chǎn)品型號:
- 更新時間:2023-12-19
- 產(chǎn)品介紹:SA-Stage-C單點反射測量支架是一個光纖探頭支架,用于厚度達150mm的光學層和其它基底的反射測量。這一反射光纖探頭支架適于固定直徑達6.35mm的反射光纖探頭和其它取樣設備,可以在一個不銹鋼支柱上上下滑行,調節(jié)高度可達80mm。
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產(chǎn)品介紹
品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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組件類別 | 光學元件 | 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子 |
SA-Stage-C單點反射測量支架
SA-Stage-C單點反射測量支架是一個光纖探頭支架,用于厚度達150mm的光學層和其它基底的反射測量。
這一反射光纖探頭支架適于固定直徑達6.35mm的反射光纖探頭和其它取樣設備,可以在一個不銹鋼支柱上上下滑行,調節(jié)高度可達80mm。
規(guī)格 | SA-Stage-C |
尺寸: | Φ150mm×厚10mm |
高度: | 垂直可調高度80mm |
材質: | 鋁合金 |
表面處理: | 亞光發(fā)黑 |
適配產(chǎn)品: | QR系列反射光纖 |
用途: | 專為反射光纖測量而設計,能有效固定光纖探頭,防止因抖動等人為因素影響檢測效果. |
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